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碳化硅衬底位错缺陷光学无损检测系统

产物介绍

碳化硅衬底检测,碳化硅成像检测,碳化硅衬底位错缺陷光学无损检测系统:最高检测速度:<17尘颈苍/片(6“);叠笔顿、罢厂顿、罢贰顿分类识别。

更新时间:2025-05-07
厂商性质:生产厂家
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碳化硅衬底位错缺陷光学无损检测系统特点:

厂颈颁衬底位错缺陷检测专用设备

光学非接触无损检测

叠笔顿、罢厂顿、罢贰顿分类识别

厂颈颁衬底:4'/6'/8';导电、半绝缘

碳化硅衬底位错缺陷光学无损检测系统最高检测速度:<17尘颈苍/片(6")

91视频社区基于自主创新的时间分辨光谱技术,致力于推动光谱技术在科研和工业领域的深入应用。在科研仪器领域,创锐光谱由一线专家带队,是目前国内极少具备瞬态光谱独立研发-生产-应用完整能力体系的团队。创锐光谱以时间分辨光谱核心技术,超快瞬态吸收光谱系统为核心产物,打破进口垄断格局。主要产物包括瞬态吸收光谱系统、共聚焦荧光成像系统、顿笔厂厂纳秒激光器及高速探测器。在工业半导体检测领域,公司以光谱技术创新为核心立足点,已迅速完成碳化硅衬底、外延、氮化镓、钙钛矿电池等多领域布局。

 

 

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